Тестеры полупроводников
| Название | Краткое описание | Назначение | |
 |
Интегрированная система тестирования на основе набора измерительных приборов, обладающие широкими возможностями конфигурации и предназначены для измерения характеристик полупроводниковых элементов на уровне устройства, кристалла или модуля. Обеспечивают функциональность и позволяют настраивать конфигурацию в соответствии с требованиями пользователя. | Гибкая система тестирования полупроводников. | |
 |
Предназначена для выполнения всех видов измерений по постоянному току и для снятия вольт-фарадных характеристик, необходимых для управления процессами, мониторинга их надежности и для измерения параметров материалов и устройств. Обеспечивают гибкость плана тестирования, высокий уровень автоматизации, возможность интеграции с зондовыми станциями и управления данными. Выпускаются три стандартные конфигурации системы S530 - базовая, слаботочная, высоковольтная. Может поддерживать до 8 измерительно-питающих устройств и до 60 контактных разъемов. | Параметрическая система тестирования. | |
 |
• До девяти прецизионных DC источников-измерителей (прикладывание напряжения, подача тока, измерение напряжения или тока от 0,1 фА до 1 А и от 1 мкВ до 210 В). • Модуль снятия вольт-фарадных характеристик (измерение емкости в диапазоне от аттофарад до микрофарад на частотах от 1 кГц до 10 МГц). • Быстродействующий модуль измерения тока и напряжения (измерения в импульсном режиме и регистрация переходных процессов. Измерение напряжения со скоростью до 1 В/нс с одновременным измерением при этом напряжения и тока. Внутренняя синхронизация с задержкой не более 3 нс). • Два различных модуля цифровых осциллографов. • Интерактивная программная среда для тестирования KITE. |
Универсальное конфигурируемое решение для измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик в непрерывном и импульсном режиме. | |
|
Сконфигурированные решения для силовой электроники
|
|||
 |
Включает необходимый инструментарий, оснастку и ПО для проведения вольт-амперных и вольт-фарадных измерений (200V/50A/400V-CV). | Сильные токи + C-V | |
 |
Включает необходимый инструментарий, оснастку и ПО для проведения вольт-амперных и вольт-фарадных измерений (3 kV/1A/400V-CV) | Большие напряжения + C-V | |
 |
Включает необходимый инструментарий, оснастку и ПО для проведения вольт-амперных и вольт-фарадных измерений (3 kV/50A/400V-CV) | Сильные токи, большие напряжения + C-V | |
 |
Включает необходимый инструментарий, оснастку и ПО для проведения измерений (200V/1,5A (имп.10A) | Слаботочный | |
 |
Включает необходимый инструментарий, оснастку и ПО для проведения измерений (200V/50A) | Сильные токи | |
 |
Включает необходимый инструментарий, оснастку и ПО для проведения измерений (3 kV/10A) | Большие напряжения | |
 |
Включает необходимый инструментарий, оснастку и ПО для проведения измерений (3 kV/50A) | Сильные токи, большие напряжения | |
 |
Универсальная интерактивная программная среда, предназначенная для измерения характеристик устройств, параметрического тестирования, испытаний на надежность и для проведения простых функциональных тестов. Программная среда ACS стабильно функционирует на различных аппаратных конфигурациях. Масштабируемые решения для испытаний на надежность на уровне полупроводниковой пластины. | Программный пакет для автоматического измерения характеристик | |
