Измерения на пластинах до 200 мм - Зондовые станции Cascade Microtech. Аксессуары - Технологическое оборудование - Продукция - ELTM.ru

Измерения на пластинах до 200 мм


Название Краткое описание
PM8
PM8
Ручная высокостабильная, энергомичная модульная зондовая станция для проведения прецизионных DC и ВЧ измерений на пластине диаметром до 200 мм. Идеально подходит для таких приложений как характеризация на пластине и готовых устройств, анализа на отказ, ВЧ и СВЧ измерений, тестирования опто-электронных устройств. На платформе станции скомплектованы и готовые решения для проведения DC измерений и анализа на отказ PM8-COAX/FA .
EPS200RF
EPS200RF
Специализированное решение на платформе PM8 для проведения ВЧ-измерений на пластинах диаметром до 200мм на частотах до 67 ГГц. В комплект поставки входит необходимый инструментарий и программное обеспечение для частотных измерений на субстратах размером 25 µm x 35 µm.
Summit 11/12K
Summit 11/12K
Зондовые полуавтоматические станции на платформе Summit™, использующие технологии   PureLine™ and AttoGuard , позволяют пользователю решать весь спектр задач на пластине до 200 мм – ВЧ/СВЧ измерения, характеризация устройств, испытания на надежность пластин, е-test моделирование или повышение выхода готовой продукции. Эти станции легко конфигурируются под задачи пользователя в зависимости от требований к точности измерений, размера тестовых устройств, температурного диапазона и разрешающей способности микроскопов.
PA200
PA200
Благодаря высокой стабильности контакта и точности измерений полуавтоматическая зондовая станция PA200 идеально подходит для решения задач анализа отказов, характеризации и моделирования устройств на постоянном токе и ВЧ/СВЧ измерений на пластинах до 200 мм, а также для тестирования опто-электронных и MEMS устройств.
PA200BlueRay
PA200BlueRay
Разработана для высокоточного тестирования оптоэлектронных, микроэлектромеханических(MEMS) и ВЧ-устройств как в полуавтоматическом, так и полностью автоматическом режиме. Благодаря технологии MultiDie Testing™ скорость автоматического тестирования достигает 20 кристаллов/сек (70,000 кристаллов/час).