abi

Компания "ЭлекТрейд-М" является эксклюзивным дистрибьютором мирового лидера по разработке и производству систем

комплексного тестирования и отладки печатных плат и электронных компонентов, компании ABI Electronics на территории России.

 

Какие задачи позволяет решить оборудование компании ABI Electronics?

  • Внутрисхемная диагностика электронных компонентов, узлов печатных плат и электронных устройств
  • Внесхемная диагностика электронных компонентов
  • Внутрисхемное функциональное и логическое тестирование электронных компонентов и устройств
  • Внесхемное функциональное тестирование электронных компонентов
  • Измерение электрических характеристик электронных компонентов и устройств
  • Программирование и верификация содержимого микросхем EEPROM
  • Определение функций неизвестных цифровых микросхем
  • Детектирование контрафактных электронных компонентов
  • Программирование, тестирование и отладка микросхем и устройств, работающих по интерфейсу JTAG
  • Воссоздание принципиальной схемы и схемы соединений устройств на базе печатных плат при отсутствии конструкторской документации

 

Success story:

Компания Honeywell Aerospace производит и сопровождает широкий спектр электронных систем, используемых в авиационной промышленности. Вследствие износа некоторых устаревших, но дорогих печатных плат, компания решила произвести исследование рынка на предмет надежного и экономичного решения, удовлетворяющего их требованиям по техническому обслуживанию печатных плат. После тщательного анализа различных предложений на рынке, в начале 2014 года Honeywell выбрала систему BoardMaster 8000Plus компании ABI. Беспрецедентный уровень покрытия неисправностей и надежность BoardMaster, в совокупности с уникальной функцией TestFlow Manager и возможностями создания собственных виртуальных инструментов значительно ускорили поиск и локализацию неисправностей и, тем самым, позволили уменьшить стоимость обслуживания и ремонта, проводимого специалистами компании.

 

Почему оборудование компании ABI Electronics?

  • Возможность проведения полного цикла тестирования практически любых электронных компонентов, включая:

- цифровые микросхемы всех семейств и технологий (ТТЛ, КМОП, ЭСЛ, РТЛ, ДТЛ, БИС, PECL…);

- аналоговые микросхемы;

- двух- и трехвыводные активные компоненты (диоды и транзисторы);

- пассивные компоненты (резисторы, конденсаторы).

 

  • Возможность работы с любыми электронными компонентами – как коммерческого, так и специального назначения.

 

  • Широкая библиотека микросхем и активных компонентов для проведения функционального тестирования как известного, так и неизвестного образца

 

  • Широкий предлагаемый ассортимент пробников, тестовых зажимов и адаптеров, позволяющий надежно подключиться к компоненту в практически любом типе корпусов (DIL, SOIC, PLCC, QFP, TO, TSSOP, SOT, двухвыводным компонентам…). Для детектора контрафактных компонентов также доступны адаптеры для корпусов BGA до 676 выводов.

 

  • Интуитивный интерфейс программного обеспечения, позволяющий:

- управлять инструментами в параллельном режиме;

- разрабатывать свои виртуальные инструменты, заточенные под конкретную задачу;

- создавать тестовые последовательности и дополнять их информацией для оператора (текстовое описание методики тестирования, картинки, видеоматериалы, тех.документация, веб-ссылки и т.д.).

 

  • Бюджетное тестирование электронных устройств на базе шины JTAG

- программирование и верификация любых микросхем, подключенных к шине;

- быстрое тестирование работы микросхем и устройства в целом, относительно эталонного;

- возможность прямой установки вывода микросхемы в заданное значение для контроля ее исправности;

- бесконтактная проверка и отладка микросхем с множеством труднодоступных или вовсе недоступных выводов.


  • Возможность проведения входного контроля любых электронных компонентов на предмет их подлинности, обеспечивая защиту от недобросовестных поставщиков, поставляющих контрафактную продукцию. 

 

  • За свою 30-летнюю историю ABI помогла своим заказчикам сэкономить сотни миллионов фунтов, используя свое оборудование. Благодаря нему стало возможным произвести ремонт большого количества печатных плат, вместо проведения их утилизации, подвергающей окружающую среду серьезному риску.

 

За дополнительной информацией о возможностях и применениях продукции компании ABI, а также по вопросам поставки, технической поддержки и демонстрации работы, обращайтесь к специалистам нашей компании. 

 

Тэги:

диагностика микросхем

тестирование микросхем

функциональный тест микросхем

проверка работоспособности микросхем

проверка микросхем

тест микросхем

контрафактные микросхемы детектор

контрафактные микросхемы распознаватель

контрафактные микросхемы определить

принципиальная схема платы получить

схема соединений платы получить

JTAG тестирование

периферийное сканирование JTAG

JTAG проверка микросхем

Проверка ПЛИС

Проверка СБИС

 

 



Диагностика электронных устройств


Название Краткое описание
BoardMaster 8000 Plus Универсальная диагностическая система.
BoardMaster 8000 Plus Универсальная диагностическая система.

Чрезвычайно гибкая, автономная и простая в эксплуатации тестовая система. Представляет собой решение в одном корпусе, включающее широкий набор тестовых модулей System 8, предназначенных для поиска и локализации неисправностей на печатных платах и диагностики электронных компонентов, а также встроенный ПК и монитор

BoardMaster Rack Mount Case семейства System 8 Диагностическая система со встроенным ПК
BoardMaster Rack Mount Case семейства System 8 Диагностическая система со встроенным ПК

Чрезвычайно гибкая, автономная и простая в эксплуатации тестовая система. Включает в себя широкий набор тестовых модулей System 8, предназначенных для поиска и локализации неисправностей на печатных платах и диагностики электронных компонентов, а также встроенный ПК

Модуль Advanced Matrix Scanner (AMS) семейства System 8 Тестер аналоговых характеристик компонентов со свипированием частоты
Модуль Advanced Matrix Scanner (AMS) семейства System 8 Тестер аналоговых характеристик компонентов со свипированием частоты

Модуль для глубокого тестирования компонентов на плате методом анализа вольт-амперных сигнатур выводов с частотным свипированием без подачи питания на плату

Модуль SYSTEM 8 Advanced Test Module (ATM)
Модуль SYSTEM 8 Advanced Test Module (ATM)

Модуль для функционального, логического и аналогового тестирования цифровых микросхем любых семейств (внутрисхемно или внесхемно) или целых сборок на плате

BoardMaster External Case семейства System 8 Диагностическая система
BoardMaster External Case семейства System 8 Диагностическая система

Чрезвычайно гибкая, автономная и простая в эксплуатации тестовая система. Представляет собой решение в одном корпусе, включающее широкий набор тестовых модулей System 8, предназначенных для поиска и локализации неисправностей на печатных платах и диагностики электронных компонентов. Требует подключения к внешнему ПК по интерфейсу USB

Модуль SYSTEM 8 Analogue IC Tester (AICT)
Модуль SYSTEM 8 Analogue IC Tester (AICT)

Модуль для функционального и электрического тестирования аналоговых микросхем, а также других активных (диодов, транзисторов) и пассивных (резисторы, конденсаторы) аналоговых компонентов на плате

Модуль SYSTEM 8 Board Fault Locator (BFL)
Модуль SYSTEM 8 Board Fault Locator (BFL)

Модуль для функционального, логического и аналогового тестирования цифровых микросхем семейств ТТЛ и КМОП (внутрисхемно или внесхемно) или целых сборок на плате

Модуль Multiple Instrument Station (MIS) семейства System 8 Многофункциональная измерительная станция
Модуль Multiple Instrument Station (MIS) семейства System 8 Многофункциональная измерительная станция

8 измерительных приборов в одном модуле: 3-канальный осциллограф, 2-канальный генератор сигналов произвольной формы, 3-канальный счетчик частотомер, вольтметр, амперметр, омметр, источник питания и 8-канальный источник-измеритель

Модуль Variable Power Supply (VPS) семейства System 8 Конфигурируемый источник питания с цифровыми и аналоговыми выводами

Модуль для обеспечения питания тестируемых аналоговых или цифровых плат с настраиваемой защитой по току и напряжению

Детектор контрафактных микросхем SENTRY Counterfeit IC Detector
Детектор контрафактных микросхем SENTRY Counterfeit IC Detector

Система детектирования контрафактных электронных компонентов для защиты от продукции недобросовестных поставщиков

RevEng Schematic Learning System Схематическая система изучения
RevEng Schematic Learning System Схематическая система изучения

Система для воссоздания схемы соединений и/или принципиальной схемы платы без наличия конструкторской документации

LinearMaster серии Compact Professional Портативный функциональный тестер аналоговых микросхем
LinearMaster серии Compact Professional Портативный функциональный тестер аналоговых микросхем

Бюджетное решение для внесхемного функционального тестирования аналоговых микросхем

JTAGMaster Boundary Scan Устройство периферийного сканирования и внутрисхемный программатор микросхем шины JTAG
JTAGMaster Boundary Scan Устройство периферийного сканирования и внутрисхемный программатор микросхем шины JTAG

Устройство для внутрисхемного программирования, тестирования и контроля качества монтажа микросхем, в том числе СБИС, работающих по интерфейсу JTAG

CircuitMaster 4000M  Прецизионный активный осциллограф
CircuitMaster 4000M Прецизионный активный осциллограф

Осциллограф смешанных сигналов с расширенными функциями анализа устройств на базе печатных плат

ChipMaster серии Compact Professional Портативный функциональный тестер цифровых микросхем
ChipMaster серии Compact Professional Портативный функциональный тестер цифровых микросхем

Бюджетное решение для внесхемного функционального тестирования цифровых микросхем

PremierLink Software ПО для пополнения библиотеки компонентов System 8 для функционального тестирования

Программное обеспечение для создания программ функционального тестирования отсутствующих в библиотеке System 8 компонентов

CompactLink Software ПО для создания программ функционального тестирования компонентов для библиотеки ChipMaster и LinearMaster

Программное обеспечение для создания программ функционального тестирования отсутствующих в библиотеках ChipMaster и LinearMaster компонентов