Keithley
Мин:+\-10 aА*
Макс: +/-1,05А
Мин:+/- 1 мВ
Макс:+/-210 В
‹0,2 Ом до ›20ТОм
Исследования пучка частиц
Тестирование одноэлектронного полупроводникового прибора
Тестирование сверхвысокого сопротивления (выше 10¹⁵Ом)
Тестирование нано материалов
Экспериментальные наноструктуры