PA200BlueRay


Разработана для высокоточного тестирования оптоэлектронных, микроэлектромеханических(MEMS) и ВЧ-устройств как в полуавтоматическом, так и полностью автоматическом режиме. Благодаря технологии MultiDie Testing™ скорость автоматического тестирования достигает 20 кристаллов/сек (70,000 кристаллов/час).